中芯國(guó)際集成電路制造(上海)有限公司，中芯國(guó)際集成電路制造(北京)有限公司申請(qǐng)的“集成電路測(cè)試結(jié)構(gòu)、其形成方法及其測(cè)試方法”專利公布。
專利摘要顯示：一種集成電路測(cè)試結(jié)構(gòu)、其形成方法及其測(cè)試方法，其中，集成電路測(cè)試結(jié)構(gòu)包括：襯底;位于襯底上的第一測(cè)試結(jié)構(gòu)，第一測(cè)試結(jié)構(gòu)包括第一測(cè)試線以及與第一測(cè)試線兩端分別連接的第一襯墊組和第二襯墊組;位于襯底上的第二測(cè)試結(jié)構(gòu)，第二測(cè)試結(jié)構(gòu)包括第二測(cè)試線以及與第二測(cè)試線連接的第三襯墊，所述第一測(cè)試線與第二測(cè)試線之間電隔離，所述第一測(cè)試線與第二測(cè)試線構(gòu)成電容結(jié)構(gòu)。所述集成電路測(cè)試結(jié)構(gòu)能夠利用同一結(jié)構(gòu)測(cè)試電阻和電容，提升了測(cè)得的電阻和電容之間相關(guān)性的準(zhǔn)確度。
萬通知識(shí)產(chǎn)權(quán)成立于2010年1月，是綜合知識(shí)產(chǎn)權(quán)法律服務(wù)機(jī)構(gòu)之一。其業(yè)務(wù)已涵蓋：商標(biāo)注冊(cè)申請(qǐng)（轉(zhuǎn)讓、設(shè)計(jì)、續(xù)展、變更、撤銷、答辯及復(fù)審等）；漳州實(shí)用新型專利申請(qǐng)費(fèi)用明細(xì)（轉(zhuǎn)讓、外觀設(shè)計(jì)、撰寫、許可、訴訟、答辯及復(fù)審等）；版權(quán)登記（轉(zhuǎn)讓、快審、訴訟、維權(quán)、海關(guān)保護(hù)等）；ISO貫標(biāo)認(rèn)證；法律文件翻譯等多方面的知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理服務(wù)�，F(xiàn)已在北京、泉州、廈門、漳州等地設(shè)立分公司。萬通人一直致力于在知識(shí)產(chǎn)權(quán)領(lǐng)域?yàn)槠笫聵I(yè)單位提供法律與技術(shù)支持，為用戶提供個(gè)性化的知識(shí)產(chǎn)權(quán)戰(zhàn)略咨詢及整體解決方案。
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